二手 JEOL JSM 5900LV #9230474 待售
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ID: 9230474
优质的: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX System
LINK ISIS Spectrometer 0738
7274 Detector
ATW2, 133ev, 10mm
Computer
Below the lens BSE detector
Requires LN
Cannot be converted to SDD type that does not use LN
Diffusion pump
Tungsten based system: 1 to 25 kV operating range
Objective aperture strip: 3, 20, 30, 100 um
Take off angle value: TA 35
Image detector ports: (2) Vacant ports plus the EDX
Maximum SEM resolution: 2560 x 1920
EDX resolution: 133 ev, ~1024 Pixel image resolution
No film camera
Circular port diameter: 120 mm
Optical resolution: 3.5 nm
Calibration of the gun bias is electronic
(2) PC's
(2) LCD's
(2) RP's
Transformer 100 V
Spectrometer box (same size as a PC)
Manuals
No printer
Ranges:
WD 5-40 (Limited by the under the lens BSE detector)
X and Y: Currently using 4" x 5" holder
Tilt: 90, Z: 48, X: -75 to 50mm, Y: -50 to 50 mm
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV是一种扫描电子显微镜（SEM），旨在提供具有最佳分辨率和速度的高级成像能力。它具有超高速、大阶段的样品储存器，放大倍率范围为5倍至50000倍，允许广泛的工业、生物和地质研究应用。该仪器配备了最新的电子光学技术，具有惊人的稳定性和精确度。它的反射率探测器和数字成像可以对超细结构和纳米结构进行详细的可视化，分辨率低至1nm。这种显微镜是通过多场扫描系统启用的，该系统使用户能够在保持相同图像质量的同时一次捕获多个图像。此外，JEOL JSM-5900LV SEM还具有一个低真空环境室，在成像过程中保留了细腻样品的表面。该仪器轻巧小巧，提供与较大型号相同的性能。它拥有用户友好的控制系统，使操作员能够毫无困难地导航和调整半导体成像参数。这包括调整电子束的角度，以不同角度照射样品，以及调整偏转和加速度电压。JSM 5900 LV SEM也兼容了各种各样的探测器和舞台配件。这包括一个反向散射电子探测器、一个能量色散X射线探测器、一个反射电子探测器、一个表面探针探测器和一个可调标本支架。这些附件可以快速换出，以增加分析能力。JSM 5900LV是一种功能强大且可靠的扫描电子显微镜，提供卓越的图像质量和原子级分辨率。其先进的电子光学和低真空室使其非常适合多种研究应用，适合广泛的用户。SEM具有符合人体工程学的设计、用户友好的界面和可定制的配件,非常适合生物医学、材料科学、纳米技术和其他科学领域的研究人员。
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