二手 JEOL JSM 5900LV #9314353 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

ID: 9314353
Scanning Electron Microscope (SEM) Low vacuum Chamber, 8" OXFORD EDS X-SIS 5-axis Motorized stage.
JEOL JSM 5900LV是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于材料科学、生命科学和工业检验。它是一种高分辨率、低真空(LV) SEM,能够成像从纳米到毫米尺度的各种样品尺寸和形状。JEOL JSM-5900LV配备了双枪系统的镜内式高性能电子枪。光束电流范围为0.1 pA至15 nA,可通过EDX ElementComp实现高分辨率成像和元素分析。它还配备了提供高灵敏度成像和EDS ElementalComp的用于扩展真空操作的野外发射枪。JSM 5900 LV的放大倍率范围令人印象深刻,为15 x至1,000,000 x,允许从子nm成像到原始尺寸的60,000倍。它也足够精密,可以采用多种成像模式,包括二次电子(SE)、反向散射电子(BSE)、镜头内二次电子(ISEL)和高分辨率立体成像(MP)。利用其高清成像和可选的镜头内类型的ImageMatch系统,用户能够检测样品中的微小特征。此外,JSM-5900LV还配备了广泛的探测器和数字成像能力,用于能量色散X射线光谱(EDX/ElementComp)和分析扫描透射电子显微镜(ASTM)。EDX用于定性和定量化学分析,而ASTM可用于成像样品中的位置和成分分布。JSM 5900LV还能够同时进行SEM成像和EDX ElementComp分析,使样品表征更容易、更快。JEOL JSM 5900 LV具有多种成像功能,非常适合各种材料科学、生命科学和工业应用。这种SEM能够成像各种样品,如多氯联苯、金属、陶瓷、复合材料、碳纳米管和小型生物标本。它的高分辨率成像使使用者能够详细检查标本,并进行精确的测量。JEOL JSM 5900LV为用户提供先进可靠的扫描电子显微镜,用于对各种材料样品进行成像。
还没有评论