二手 JEOL JSM 5910 #9362883 待售

JEOL JSM 5910是一种先进的扫描电子显微镜（SEM）。这种装置是专门为在高真空条件下以非常高的放大倍数对试样表面进行详细成像而设计的。它利用钨丝电子源使二次电子探测器（SED）和反向散射电子探测器（BSD）都能使用。SEM配备了专门为低真空成像而设计的可变压力室，可用于对细腻、非导电材料进行成像。它设有一个5轴精密标本级，能够进行倾斜扫描，并能够通过12mm的行程对标本进行旋转和平移定位。此阶段还允许自动进行区域和线路扫描。JSM 5910的电子源能够产生能量高达30kV和可调电流高达8µA的光束。试样上的光束直径可小至10nm。该系统配备了镜头内枪探测和对准系统，使电子枪相对于标本能够快速对准。该SEM还配备了多种探测器，包括SE探测器、BS探测器、BSE探测器、双金涂层SE探测器和超导波长色散X射线探测器。这些探测器支持多种成像模式，包括反向散射成像、地形成像、常规光束微分析和能量色散X射线（EDX）光谱。JEOL JSM 5910使用用户友好、Windows支持的软件包操作,该软件包提供对SEM功能的完全控制。此软件包包括图像处理部分,用于图像采集之前或之后的图像增强。JSM 5910是一种功能强大、用途广泛的工具,可用于多种材料的高分辨率成像和元素组成分析。JEOL JSM 5910拥有先进的电子光学、探测器和综合软件包,是各种表面成像和分析的理想选择。