二手 JEOL JSM 5910LV #9203901 待售

JEOL JSM 5910LV是一种扫描电子显微镜（SEM），能够对标本进行高分辨率成像，最大场尺寸可达220mm（8.6英寸）。它是一种通用的SEM,利用二次和反向散射电子成像（SEI和BSEI）进行各种应用,如半导体故障分析、微电子器件检测、生物和材料科学研究以及其他各种成像和分析任务。JSM 5910LV配备了一个可检测高达1.4nm的大型圆场检测器，可在成像样品时提供出色的分辨率、对比度和细节。它还配有内置的15kV气场发射枪，与传统的热发射枪相比，提供了更好的光束亮度和稳定性。此外,JEOL JSM 5910LV采用双柱设计,采用3维样品移动系统,可增强分辨率、景深和成像样品的精细定位。在图像对比度方面，JSM 5910LV利用二次电子成像和反向散射电子成像（SEI/BSEI）来获得样品最精确、最详细的图像。通过使用SEI和BSEI，用户可以识别样品的组成和结构，区分不同成分和密度的材料。此外，SEM获得的高对比度图像能够精确测量和分析样品特征，使得JEOL JSM 5910LV基础成像和高级研究应用的绝佳选择。JSM 5910LV还附带了多种先进的分析工具，如用于元素分析的EDS（能量色散光谱仪）和用于获取定量元素组成图像的EDXRF（能量色散X射线荧光）。而且，JEOL JSM 5910LV有一个内置的自动化阶段，可以很容易地用来成像更大的标本或多个标本。高级阶段还可以用于其他各种任务，如针迹成像、数据采集自动化和分析。总体而言，JSM 5910LV是一种功能强大、用途广泛的扫描电子显微镜，能够以出色的分辨率和图像对比度执行各种成像和分析任务。它是故障分析、半导体检测、生物研究、材料科学研究等应用的理想选择。JEOL JSM 5910LV具有先进的阶段和内置的分析工具,能够对样品进行精确、详细的成像,并为高级研究提供了许多机会。