二手 JEOL JSM 6010LA #9220325 待售

ID: 9220325
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6010LA是一种扫描电子显微镜(SEM).它通过在样品表面扫描聚焦电子束同时从样品相互作用中收集二次电子来产生高分辨率图像。该6010LA有一个新开发的上室,里面装有一个冷场发射枪(CFEG)电子源和最多三个探测器之一。这创造了一个宽敞的工作环境,可以快速和安全地进入,使设施能够执行各种复杂的技术。JSM 6010LA采用了可变压力二次电子探测器,允许在低压下成像,大大降低了充电和超深成像。该SEM还能够使用一种称为"轮廓识别"的方法获得广泛的表面地形测量,该方法可快速生成3D图像。除了此功能外,它还提供多种成像功能,例如使用单独的系统进行X射线分析,以便用户能够从同一SEM获取元素和结构信息。JEOL JSM 6010LA旨在提供最高级别的扫描分辨率和精度。其柱内能量滤波器产生的分辨率明显优于传统系统,导致突出的细节和对比。除了先进的成像功能外,此SEM还非常适合进行高精度的化学和元素分析。由于其最先进的X射线微分析能量滤波器,它提供了灵敏度高、精度高的独特元素分布图像。最后,JSM 6010LA提供了符合人体工程学的设计,其用户友好的界面提供了简单的操作。直观的软件自动设置最优仪器参数,进一步优化生产率。此外,还提供了多种附加硬件选项,例如低温观测的冷冻级,以使6010LA更加通用,并改善用户体验。结合所有这些特性,JEOL JSM 6010LA是任何微观结构分析应用的最佳选择。
还没有评论