二手 JEOL JSM 6060LV #9314363 待售

ID: 9314363
Scanning Electron Microscope (SEM) SE and BSE resolution Specimen: Up to 32mm in diameter Standard automated Low vacuum mode Manual PC Operating system: Windows 10.
JEOL JSM 6060LV是一种用于复杂研究工作的扫描电子显微镜(SEM)。它具有出色的分辨率,能够精确地将样品成像到一纳米的分辨率.作为扫描电子显微镜,它使用聚焦电子束检查样品的表面形态。电子与样品相互作用,产生不同的信号,然后由显微镜处理和分析。这种类型的显微镜提供了一系列特征和能力,例如样品元素的映射,以及在高真空、低真空或环境模式下的操作。JEOL JSM 6060 LV的主要优点之一是光学性能。其性能在分辨率和对比度分辨率方面可谓出类拔萃,非常适合于微小粒子和特征的成像和分析。显微镜可以产生分辨率最高的影像。它还具有广泛的探测器选项,允许进行各种各样的实验。高分辨率的1纳米分辨率也使得它对小样品成像非常有效,具有对相对密度和尺寸进行精确测量和测量的能力。对于需要更高精度的用户,JSM 6060LV具有5 nm分辨率的数字视频系统,可提供最高分辨率的映像。JSM 6060 LV的性能也通过其先进的成像软件得到提升。该软件提供强大的图像处理功能,允许应用过滤器、进行测量和进行定量分析。显微镜还通过自动获取多个图像并将其组合以产生更高分辨率的图像来提供一系列成像选项。JEOL JSM 6060LV也是一个能干的分析SEM,具有出色的元素分析能力.包括的STEM(扫描透射电子显微镜)模式允许使用能量色散光谱或电子能量损失光谱进行分析。此外,内置的能量滤波器允许光元素检测和元素分析低至几百万分之几。总之,JEOL JSM 6060 LV是一款功能强大的SEM。它具有出色的分辨率和图像质量以及广泛的成像应用。其精确度和分析能力使其非常适合任何研究环境。用户友好的界面、先进的成像软件和各种检测器选项使JSM 6060LV复杂样品成像和分析的绝佳选择。
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