二手 JEOL JSM 6100 #293816150 待售

ID: 293816150
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6100是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于工业、生物和材料科学研究应用中的样品成像、元素分析和表面分析。JSM 6100提供多种分析功能,以支持广泛的科学研究。SEM利用高真空单色高分辨率场发射枪(FEG)提高图像分辨率、对比度和更高的吞吐量。FEG可针对对比度和其他成像参数进行调节,从而优化图像的分辨率和范围。该设备具有先进的电子设备,可直观可靠地控制成像过程。SEM配备了一整套先进的成像模式,包括反向散射电子成像(BSE)、二次电子(SE)成像和阴极发光。BSE提供了卓越的景深成像能力,非常适合分析表面地形和染色。SE模式产生高对比度的表面形态图像,非常适合在硬质样品中成像砂砾和裂纹图样。SE模式还允许对样品进行定量元素分析,提供样品元素组成的准确表示。JEOL JSM 6100利用能量色散X射线光谱(EDS)探测器对材料进行元素分析。EDS提供了传统EDS系统无法提供的卓越分辨率、灵敏度和能量辨别。EDS与SEM显微镜阶段相结合,允许对样品中存在的元素进行快速有效的映射。JSM 6100配备了精细的成像系统,为执行各种分析任务提供卓越的图像分辨率、对比度和灵活性。该装置能够成像分辨率高达1.5nm的样品。机器还配备了一个自动采样阶段,允许对采样进行自动遍历和制图。采样阶段的自动化提高了图像捕获的吞吐量和准确性。JEOL JSM 6100是一种高效可靠的工具,可用于各种成像和分析任务。该资产可靠,几乎不需要维护,因此可以实现经济高效和一致的操作。平台还配备了先进的安全功能,确保人员在运行过程中的最佳安全。先进的成像、分析和自动化能力相结合,使得JSM 6100成为工业、生物和材料科学研究的理想模型。
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