二手 JEOL JSM 6100 #9147721 待售

ID: 9147721
Scanning electron microscope (SEM) Resolution: High vacuum mode: 3.0 nm(30kV) Low vacuum mode: 4.0 nm(30kV) Accelerating voltage: 0.3 to 30 kV Magnification: x5 to 300,000 Filament: Pre-centered w hairpin filament (with continuous auto bias) Objective lens: Super conical lens.
JEOL JSM 6100扫描电子显微镜(SEM)是一种高性能成像设备,用于材料分析、纳米技术、生命科学研究等多种应用。这款先进的SEM可生产分辨率高达16 nm的高分辨率图像,并提供全自动、超快速的图像采集。SEM还具有多种成像模式,如反向散射电子、二次电子和阴极发光成像,可以观察各种样品类型。JSM 6100具有先进的扫描电子光学设备,提供无与伦比的图像质量和无与伦比的景深。它具有广阔的视野,对角线长达55毫米,能够在比竞争对手的系统更大的区域内获得更精细的细节。该仪器还具有直观的用户界面和易于使用的触摸屏面板。这允许直观的操作和最小的用户培训。SEM采用高性能探测器和高分辨率数字视频采集系统。此外,SEM还配备了一个自动化的样本阶段,具有种类繁多的标本持有者以及自动化的阶段扫描功能。这样可以快速轻松地获取大型数据集。SEM采用了10keV至25keV的自动调节电子枪单元,使其在多种应用中具有高度的通用性。它具有独特的光束减速电路,能够将电子加速减速到精确的水平,从而消除敏感样品中的静电。JEOL JSM 6100还设计用于低振动操作,噪声水平低于50dB,使其能够在各种环境中产生高质量的图像。此外,它还具有多种PC样式的外部接口以及扩展的图像分析和评估功能。总体而言,JSM 6100是一款功能强大且可靠的扫描电子显微镜,它提供了无与伦比的成像性能、用户和环境特性组合。JEOL JSM 6100凭借其先进的SEM光学机器、直观的用户界面和全自动采样阶段,非常适合各种应用。
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