二手 JEOL JSM 6100 #9157307 待售

ID: 9157307
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 6100是一种扫描电子显微镜(SEM),利用二次电子(SE)在电子显微镜中产生样品的高分辨率图像。JSM 6100是一种可变压力扫描电子显微镜,允许操作员将腔室的压力从0.3帕斯卡(约合2毫升)的高压改变为10-6帕斯卡(约合30纳托尔)的低压。这种压力范围允许通过降低充电效果来成像非导电样品。标本级可以旋转360°,倾斜范围为-80°至+90°,是倾斜成像的理想选择。标本阶段还可以协助操作者进行标本高度调整。样品可以放在一个支架中,并升高到只有8mm的短工作距离的物镜,使其成为需要高放大倍率的小样品的理想选择。这种高放大倍率是由于镜头放大幅度为5倍至45,000倍而得以实现的。JEOL JSM 6100也有两个30 kV SE探测器设计同时使用,每个探测器的放大倍率范围为30 x至20000 x。JSM 6100配备了Everhart-Thornley型SE探测器,用于成像导电和非导电样品。该探测器使用法拉第杯检测电子反向散射,使用固态探测器(TED)检测次级电子。Everhart-Thornley SE探测器具有广泛的动态范围和分辨率,可以在样品表面带出精细的细节。Everhart-Thornley SE探测器可以与第二个探测器,一个发散的长发射电子源(LEED)结合,将探测范围扩大到原子尺度。LEED可用于非导电表面成像和晶体结构的精确测定。LEED源具有两个具有手动控制的孔径,并能够将发射电流从0-100 nA改变。JEOL JSM 6100是一款功能强大的扫描电子显微镜,非常适合以纳米尺度分辨率成像样品。它能够对非导电样品成像,分辨率和准确性都很高。JSM 6100是用于成像导电和非导电表面细节以及原子结构确定的理想工具。
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