二手 JEOL JSM 6100 #9219588 待售

ID: 9219588
Scanning Electron Microscope (SEM) Imaging detectors SEI and solid state BEI (3) Sample holders: 12 mm, 32 mm and 78 mm Wafer sample holder, 6" Diffusion and roughing pumps SEM Keyboard Stainless steel column Joystick driven stage Detector: 10 mm Qual and quant ED programs Digital imaging Line scanning Elemental dot mapping (6) K-type filaments included.
JEOL JSM 6100是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于对材料进行低放大率和高放大率的高分辨率成像。这款功能强大的分析工具结合了极高分辨率成像、优越景深、高灵敏度元素检测能力以及广泛的标本尺寸和形状兼容性的卓越组合。该仪器结合了可变压力扫描电子显微镜和超高分辨率透镜系统。电子枪装有低真空热电子灯丝,提供的初级电子束厚度仅为0.2 nm。这种高精度使得JEOL-JSM 6100非常适合需要高分辨率成像和表面分析的应用。独特的真空泵送系统让系统被抽空到超低压,大大提高了高质量SE(二次电子)图像的产生。二次电子探测器配备了可变扫描速率和动态孔径,进一步提高了成像质量和灵活性。先进的SE探测器具有最多四个探测器的阵列,每个探测器放大到30万次时的视场为5或10 µm。这使得可以在多个通道中同时进行SE成像,以用于高级应用,如多能量成像和电子束光刻。此外,JEOL-JEOL JSM 6100还配备了可选的反向散射电子探测器,使其适合在ESEM(环境SEM)模式下使用。JEOL-JSM 6100除了具有高精度成像能力外,还支持广泛的标准和可选分析能力,包括能量色散X射线光谱和阴极发光。JEOL-JEOL JSM 6100具有高分辨率的成像、优越的景深和广泛的分析能力,非常适合进行强大的材料检测和表征。
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