二手 JEOL JSM 6100 #9224652 待售

ID: 9224652
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6100是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于对一系列样品进行表面检查和分析。它具有高分辨率、大视野和可变压力设备,非常适合观察和分析具有精细几何结构的样品。JSM 6100最大输出30千伏,最大放大倍数达90,000倍。显微镜配备了场发射枪(FEG)电子源,与其他源相比提供了更大的稳定性和更高的能量利用率。这样可以提供卓越的分辨率和成像质量。显微镜能够提供三种类型的扫描数据,从真实的计划视图到深度轮廓图像。此外,还有一个数字图像系统可用于观察和显示样本。该样品可利用一系列技术用于摄影,包括光束诱导沉积、溅射涂层涂层和化学气相沉积。JEOL JSM 6100的快照时间不到两秒,因此可以快速处理样本和后续查看。JSM 6100还提供了几种自动分析功能。其中包括三种可用于执行反向散射成像、EDX元素分析和电子反向散射衍射的特殊模式。此外,显微镜允许自动对准和聚焦控制,这意味着样品对准和最佳聚焦可以快速准确地实现。除了JEOL JSM 6100之外,JEOL还提供了一系列配件,用于进一步定制设备。这包括各种真空部件,如样品装载机和腔室加热机;显微镜级,如用于样品移动的步进电动机;和探测器,如X射线、二次电子、反向散射电子和阴极发光探测器。这些组件可用于自定义工具,并将其功能扩展到用户的特定需求。总体而言,JSM 6100 SEM是一种功能强大、复杂的资产,可用于多种应用程序。它具有高分辨率、宽视野、先进的成像和分析特点,非常适合细化样品的观测和分析。JEOL JSM 6100 SEM具有快速处理和显示数据的能力,是一种高效的表面检测和分析工具。
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