二手 JEOL JSM 6100 #9226960 待售

ID: 9226960
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6100是一种用于高分辨率成像的扫描电子显微镜(SEM)。它能够产生比传统光学显微镜高得多的空间分辨率的图像,使其成为研究许多材料纳米级结构的有力工具。JSM 6100配备了场发射扫描电子源(FESEM),提供比热发射SEM更好的信噪比和更高的分辨率。在FESEM配置中,它在二次电子模式下具有低至0.7 nm的分辨率能力,在反向散射电子模式下具有1.5 nm的分辨率能力。JEOL JSM 6100利用扫描级,具有两轴偏转线圈和计算机控制的样品操作功能。它具有12微米的运动范围,允许快速和精确的成像.JSM 6100还具有25毫米的较大工作距离,允许方便的标本操作和放置,而不会损坏细腻的标本。JEOL JSM 6100还带有许多高级成像功能。其中包括角度解析成像,它允许精确地映射曲面的许多特征。它还具有成分分析的特点,使样品的化学成分易于确定。JSM 6100提供可变压力成像,允许在一定范围的真空压力下成像,允许观察到小于仪器分辨率极限的特性。JEOL JSM 6100配备了用于元素分析的EDS(能量色散光谱)检测器。此检测器能够检测元素周期表中的元素到小于1%的检测极限。JSM 6100还具有超高分辨率成像模式,允许对0.3 nm以下的功能进行成像。总体而言,JEOL JSM 6100是一种功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜,具有许多先进的功能,非常适合对纳米级结构进行成像和分析。
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