二手 JEOL JSM 6300 #9234610 待售

JEOL JSM 6300
ID: 9234610
Scanning Electron Microscope (SEM) PC Controlled Voltage: 0.2 kV - 30 kV Magnification: 10 x - 300,000 x Detectors: SE, BSE Resolution: 3.5 nm (at 30 kV) Option: EDX.
JEOL JSM 6300是一种扫描电子显微镜(SEM),专为成像和分析多种样品而设计,如金属、陶瓷、聚合物、半导体、复合材料等材料。它为极小的样品特征提供了高分辨率的成像功能,最小特征尺寸小至0.5nm。JEOL JSM-6300的设计采用了先进的高分辨率数字成像程序,用于采样和成像各种样本量。它结合了两种不同的工作模式来增强成像能力:二次电子成像(SEI)和反向散射电子成像(BSEI)。SEI非常适合检查和分析表面地形,而BSEI非常适合获取有关样品组成和材料形态的详细信息。JSM 6300具有紧凑的设计,具有通用的操作功能和直观的用户界面。它的高级阶段设计允许在广泛的视野范围内以及x、y和z轴的运动范围内进行探索。此外,JSM-6300还设有一个大型标本室,可容纳多达两个4英寸的样本持有者,以便进行有效的样品处理。JEOL JSM 6300还具有数组分析能力,如能量色散X射线(EDX)光谱元素分析、电子反向散射衍射(EBSD)分析和相位映射能力。它具有定制成像参数的最佳用户控制,以获取详细和准确的图像。JEOL JSM-6300具有卓越的灵敏度、稳定性和灵活性,非常适合研究和制造环境中的各种应用。其多才多艺的特点和功能使其适合许多影像和分析工作,满足工业、科学和学术领域许多用户的需求。
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