二手 JEOL JSM 6300 #9314149 待售

ID: 9314149
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm @ 30 kV Maximum chamber / Sample size: 5" Sample size X x Y: 50 x 70 mm Manual stage.
JEOL JSM 6300是一种高级扫描电子显微镜(SEM),设计用于高分辨率成像和分析应用。与传统光学显微镜相比,它能够提供卓越的图像质量和空间分辨率。JEOL JSM-6300具有像素大小为25.4 μ m的大型17.0厘米x 11.5厘米二次电子探测器和像素大小为9.2 μ m的4.2厘米x 4.2厘米反向散射电子探测器。该系统配备了超高真空(UHV)级,具有低噪声的UHV样品支架,允许对干燥和湿样品进行成像和分析而不受污染。此外,该系统能够产生大的景深成像,使用户能够获得大表面积的详细图像。除了成像和分析能力外,JSM 6300还具有各种类型的光谱,包括电子线和波长色散X射线光谱(WDS)。E-line spectroscopy is used for elemental analysis by measurement the energy of specific x-ray lines employed from the sample.WDS用于表面分析,使用多条X射线测量元素组成和分布。JSM-6300还包括集成电子枪,这是一种低压电子枪,设计提供超低背景噪声和扩展的操作参数。这使用户能够在较大的表面积上获得具有出色均匀性的高对比度图像。JEOL JSM 6300是一款功能强大的扫描电子显微镜,提供卓越的图像质量、分辨率和分析能力。适用于多种应用,包括半导体和材料科学研究、冶金和失效分析,以及生命科学。
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