二手 JEOL JSM 6300F #53576 待售

ID: 53576
FE SEM.
JEOL JSM 6300F是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在帮助研究具有最终分辨率的小型物体和标本。这款先进的电子显微镜提供高分辨率成像、优于样品的可重复性以及满足各种应用要求的一系列灵活性。JSM 6300F具有用于产生初级电子束的高分辨率场发射枪(FEG)。它的冷态提高了图像的稳定性,其高加速电压使得较厚样品的成像成为可能。高电子束电流使样品具有良好的图像亮度和最小的电荷。JEOL JSM 6300F由二次电子探测器、反向散射电子探测器和快速FE二次探测器组成。结合它的高分辨率硬件,这样可以实现复杂结构的更高放大成像。该系统具备成像和分析能力。几种成像技术,如SE影像、次电子影像、BSE影像、SE/BSE影像可以独立使用或组合使用。在定性评价方面,JSM 6300F的计算机辅助显微镜(CAM)成像软件对于量化内部特征特别有用,并与该软件的各种调整工具配合使用。JEOL JSM 6300F还提供一系列分析能力。它具有自动化分析和扫描技术的综合选择,如自动光谱映射、线形分析、面积形分析、元素分析等等。强大的板载X射线功能提供了即使是亚微米区域的高分辨率视图。这些特性加上易用性,使JSM 6300F成为材料科学、表面工程、设备物理、生物学和其他研发应用的理想工具。高水平的自动化、精细的校准和可靠的可重复性使其成为当前最强大的SEM之一。
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