二手 JEOL JSM 6301F #293610717 待售

JEOL JSM 6301F
ID: 293610717
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6301F是一种扫描电子显微镜,利用聚焦电子束产生高分辨率、高速图像和样品光谱。JEOL JSM 6301 F以其50mm2的视野和高达300kV的电子加速度提供了广泛的成像和分析能力,允许在纳米级生成详细的图像。SEM的主要元件是电子枪,电子由场发射枪加速。电子穿过一列到达样品室,在那里电子与样品相互作用并产生图像。然后可以使用各种数字成像软件对图像进行进一步分析。该软件允许量化和分析样品中存在的各种特征,如表面地形、组成和结构。JSM 6301F的另一个强大方面是能够用二次电子和反向散射电子成像进行元素分析。这些技术使用不同能级的电子探测样品的组成,并提供化学映射、牛津式定量分析,以及在低加速电压下检测光元素。JSM 6301 F用途广泛,结合了几种类型的探测器来执行各种测量和分析。电子反向散射衍射(,EBSD)是一种允许在纳米级表征晶体学和微结构信息的模式。EBSD系统旨在准确定位样本的基本宏观结构,如晶界、双边界和相位边界。JEOL JSM 6301F还具有阴极发光检测器、高真空室和单色后屏幕检测器,以进一步提高其分析能力。这些特性的结合允许考察各种性质,如电阻率、电场和磁场、温度等等。除了分析能力外,JEOL JSM 6301 F还提供了先进的工作流程。该软件集成了直观的图形用户界面,允许用户快速、轻松地输入相关参数、样本信息和处理设置。强大的成像、元素分析和直观的软件相结合,使JSM 6301F研究和行业的宝贵工具。
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