二手 JEOL JSM 6320F #136303 待售

JEOL JSM 6320F扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率成像工具，用于获取纳米级和微级样品的高对比度图像。它能够成像地形和元素对比，可用于检查和分析。在JSM 6320F的心脏是一个场发射枪，它可以在0.5到30kV的宽束加速电压范围内提供具有高初级束电流的电子束。这种电子束在样品上扫描以提供所需的图像。通过在显微镜上包括一个内置的微对准特征，确保电子束在样品上的精确对准，从而确保获得最佳的图像。JEOL JSM 6320F的电子光学包括肖特基和LaB6电子源、提供最大功率稳定性和像差的四极透镜柱、加速侧杆透镜、冷凝器透镜和平行光束系统，以减少散射量并提高分辨率。此外,可更改的冷凝器允许任何放大倍率下的最佳图像质量。JSM 6320F SEM的高分辨率是由其Everhart-Thornley二次电子探测器和大视场构成的。Everhart-Thornley探测器设计用来捕获样品反向散射的每一个电子，从而以更多的对比度提供更精确的图像。大视野允许用户对广阔的区域进行成像，从而能够对样品进行快速检查和分析。除了成像，JEOL JSM 6320F还能够提供各种分析能力。这些包括电子反向散射衍射、二次电子成像、原位扫描热分析和化学分析。可以使用能量色散X射线光谱（EDS）和波长色散X射线光谱（WDS）探测器进行原位化学分析。总之，JSM 6320F是一种先进的扫描电子显微镜，它结合了高分辨率成像和强大的分析能力。利用其野外发射枪、Everhart-Thornley探测器和四极透镜柱，能够在纳米和微观尺度上提供清晰、高对比度的图像，而其EDS和WDS探测器则能够对样品进行化学分析。因此，它是许多行业和研究应用的样品显微镜和分析的理想工具。