二手 JEOL JSM 6320F #9134048 待售

JEOL JSM 6320F是一种先进的扫描电子显微镜，设计用于成像和分析各种材料。它利用扫描电子束捕获单个原子、粒子、各种大小的粒子以及其他材料的高分辨率图像。JSM 6320F具有内置的能量色散X射线光谱仪和数字显示功能,使用户能够实时分析样品。JEOL JSM 6320F利用钨丝电子枪产生扫描电子束。然后在样品上扫描这个电子束，以创建样品的二维电子图像。电子束使用冷凝器透镜聚焦，并使用可调光圈散焦。这使显微镜能够产生清晰和高分辨率的图像，并允许用户观察样品的复杂细节。此外，JSM 6320F还配备了集成电子能量损失光谱仪（EELS），用于检测和分析样品电子的能量状态。这可以提供额外的分析能力和检测特定的材料组成。此外，EELS还可用于检测样品的元素组成和取向，以及测量厚度。JEOL JSM 6320F还带有内置的多通道板探测器。该探测器用于捕获来自电子束的信息，然后将其用于生成样品的图像。该探测器可用于捕捉各种样品的高对比度图像，在原子水平上研究微结构时特别有用。探测器还有助于降低背景噪声和提高图像分辨率。最后，JSM 6320F配备了数字显示设备，使用户能够实时观察他们的分析。这种显示系统提供了比传统荧光屏更高的对比度和分辨率。此外,在分析完成后,可使用显示单元查看图像。总之，JEOL JSM 6320F是一种强大的扫描电子显微镜，可以提供各种样品的高分辨率图像。它配备了扫描电子束、能量色散X射线光谱仪、多通道板探测器以及实时观测的数字显示机。这种功能强大的显微镜使用户能够准确地分析和观察他们的样品细节。