二手 JEOL JSM 6320F #9144812 待售

JEOL JSM 6320F是一种功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜（SEM）,能够进行多种测量和成像技术。JSM 6320F利用最大加速电压为30千伏的电子柱，使其成为从生物试样到半导体等一系列研究的理想选择。柱上装有透镜内二次电子检测器，为标本提供高性能成像。二次电子探测器能够区分和突出表面特征，如坑、粒子和电子束引起的损伤。列内的Everhigh腔室，为腔室的快速疏散提供了尽可能高的真空水平，并提高了后续图像的分辨率。一个充气门波纹管系统也被用于确保室内的最佳压力水平。SEM的Hi-bright系统同时为多达三个物体提供高亮度照明，并利用基于闪烁体的反反射屏幕来减少图像采集中存在的背景噪声量。同时进行明暗场成像也可用于优化精细表面特征的可视化。该仪器还能够制作各种低压成像（LVI）模式。LVI成像非常适合在低压和光束损伤最小的情况下成像有机样品。这种技术可以改进对比度和分辨率，并且能够获得在常规二次电子成像中看不到的信息。显微镜具有多种特殊的测量技术，如能量色散光谱（EDS），一种对样品中的材料进行原位成分分析的方法。这种技术对于物质表征和鉴定是必不可少的。JEOL JSM 6320F还支持一个能够精确定位样品以达到最佳成像条件的自动级。舞台设置可以很容易地进行操作,以连接SEM视图,包括360度旋转、倾斜视图设置和横截面成像。总之，JSM 6320F是一种功能强大、用途广泛的扫描电子显微镜，具有多种成像和测量技术。它具有卓越的真空和照明系统,为各种应用提供卓越的性能。