二手 JEOL JSM 6320F #9210319 待售

JEOL JSM 6320F
ID: 9210319
晶圆大小: 6"
Scanning electron microscope, 6".
JEOL JSM 6320F是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),它利用先进的电子光学和探测器对原子和纳米级的样品进行成像。它能够产生令人惊叹的高分辨率图像,即使是最优秀的细节。该6320F提供卓越的成像效果,视野可达54 µm,高清分辨率为4.1 nm。电子束由20极单极磁体加速,有助于提高电流和空间分辨率,获得高对比度和清晰度的详细图像。该6320F还配备了各种标本架和舞台,设计用于处理各种样品类型和大小。它能够容纳直径最大200毫米、高度最大120毫米的样品。它的舞台调整范围在X和Y方向上高达40mm,方便人体工程学的样品观看。SEM还配备了双检测器设备,设计目的是让用户从他们的标本中获得最大收益。有一个二次电子(SE)检测器检测从样品中散射出来的电子进行明场成像。这样可以识别样品上的不同材料,并能够检测各种材料的对比。另外,反向散射电子(BSE)检测器旨在捕获大的高对比度图像,用于分析样品表面。由于其先进的电子光学,6320F能够以高达10,000倍的分辨率成像。它还配备了用于样品大气和环境条件的地表控制和外门控制系统。外门控制系统旨在最大限度地减少空气条件对抢夺图像的改变,而样品控制单元则负责保持样品的电子发射率均匀,以获得卓越的图像清晰度。JSM 6320F是一个真正革命性的SEM,它提供了显着的成像可能性。它具有双电子探测器、先进的光学设计和人体工程学标本阶段,是原子和纳米级成像的理想仪器。它高分辨率的图像和对材料的准确表示使其成为研究、制造商和行业不可或缺的工具。
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