二手 JEOL JSM 6320F #9210344 待售

JEOL JSM 6320F是一种用于材料分析的扫描电子显微镜（SEM）。它是分析亚微米到宏观特征的行业标准微观成像和微观分析系统。它能够以高达0.06 nm的分辨率可视化样品的精细特征（如孔和晶界）,并提供统计成像、分析信息和3D建模。JSM 6320F配备了电子光学和先进的探测器，使用户能够达到最大的分析性能。6320F的成像能力可用于分析晶粒尺寸和方向、表面粗糙度、显微镜以及更多应用。利用环形视场SEM成像,JEOL JSM 6320F提供了大景深、高分辨率图像和增强视野的组合。6320F的分析能力包括能量色散X射线光谱（EDS），它允许用户分析样品的元素组成。此外，JSM 6320F的高真空和低压电子环境提供了样品的高质量图像，而无需大量的样品制备。JEOL JSM 6320F适用于冶金、汽车、电子、食品等多种行业。该6320F为用户提供了Windows XP和Windows Vista操作系统支持的简单操作。该6320F最多可容纳2个样品和5个探测器，使用户可以分析各种样品类型。综上所述，JSM 6320F是用于材料分析的行业标准扫描电子显微镜。它能够以高达0.06 nm的分辨率可视化样品的精细特征,并提供统计成像、分析信息和3D建模。该6320F为用户提供了一个简单的操作和分析各种样本类型的能力。这种显微镜适用于广泛的行业，使其成为材料分析的有力工具。