二手 JEOL JSM 6320FZ #9386490 待售

JEOL JSM 6320FZ是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），具有丰富的强大和多用途的功能。其特点是具有优异的低真空性能，具有现场排放源能力和增强的分析能力。JSM 6320FZ的第一个显着特点是其现场排放源能力。这使得显微镜可以在低真空条件下工作，减少样品损坏的可能性。现场发射源还提供了高度的稳定性和精确的控制，确保最大分辨率和图像性能。JEOL JSM 6320FZ还安装了快速、高分辨率的数字成像设备，使研究人员能够以最小的失真获取样品的高分辨率图像。该系统结合了二次电子和反向散射电子探测器，以增强图像对比度和细节。它具有创新的STEM成像单元,可提供卓越的分辨率以及增强的成像对比度和细节。此外，JSM 6320FZ配备了先进的分析能力，包括能量色散X射线光谱（EDS）和电子反向散射衍射（EBSD）。这些技术使研究人员能够识别和分析样品的元素组成和晶体学结构。JEOL JSM 6320FZ包括超高真空级，为提高电子束性能提供卓越的加速电压稳定性。此外，JSM 6320FZ采用先进的样品移动机设计，能够快速、准确地定位样品，进行最佳成像和分析。它包括各种电动舞台选项,以及倾斜、对齐和放大的自动微调。总体而言，JEOL JSM 6320FZ是一种高性能扫描电子显微镜，具有一套特性和分析能力。它提供出色的现场排放源能力，确保高分辨率图像和最小化样品损坏。JSM 6320FZ具有超高真空级、高级成像和分析选项以及自动微调功能,是显微镜研究人员的强大工具。