二手 JEOL JSM 6335F #293744719 待售

JEOL JSM 6335F是一种高分辨率的分析扫描电子成像系统，能够对各种有机和无机材料的表面和内部结构进行详细分析。这种Benchtop SEM设备配备了一个大腔室，为技术人员提供了一个充足的工作空间来处理和观察样品。与以前的型号相比,其EverHigh X射线源提供了更高的稳定性和可靠性。JSM 6335F标配镜头内二次电子探测器和能够检测广角粒子的高端反向散射探测器。二次电子探测器使用户能够非常详细地捕捉标本的地形表面特征，而反向散射探测器则允许分析标本组成和嵌入结构的横截面成像。SEM还具有聚焦离子束（FIB）扫描/扫描透射电子显微镜（STEM），允许对包括软组织在内的生物标本进行精细成像。这种FIB扫描系统具有特殊的第三代列设计，在精度、分辨率和放大倍率方面提高了性能。集成的能量色散X射线光谱仪允许分析样品的元素组成，从而最大限度地表征材料的构成。JEOL JSM 6335F专为快速可靠的图像捕获而设计；能够在不到5秒的时间内捕获2D图像,并在不到10分钟的时间内捕获单次拍摄的3D图像。该设备极其人性化，配有触摸屏控制面板、直观的图形用户界面以及手写识别等有用功能。此外,强大的工具（如Autostage功能）使示例定位和处理能够在没有用户干预的情况下尽快完成。最后，JSM 6335F的应用程序库使得该设备适用于从冶金和陶瓷到化学和半导体和纳米技术的广泛应用。其广泛的功能使其成为微量和纳米标本成像和分析的理想选择。