二手 JEOL JSM 6335F #293744948 待售

JEOL JSM 6335F是一种扫描电子显微镜（SEM）,为各种成像应用提供卓越的性能和图像分辨率能力。该仪器配备了高分辨率肖特基野外发射枪，提供了出色的源稳定性和异常高的分辨率。该仪器的数字成像和分析设备提供了高水平的集成,提供了清晰、详细的图像以获得更准确的结果。JSM 6335F是纳米技术、材料研究、电子和地质等广泛领域的样本检查的理想选择。它可以对金属、合金、氧化物和颗粒等材料进行精确的表面成像和计量,放大倍数可达45万倍。它提供了一个动态范围超过5,000灰度的真实彩色数字图像。它还带有一个综合分析系统，用于测量表面硬度、晶粒尺寸、成分和孔隙度等各种参数。JEOL JSM 6335F具有高性能的SEM室，噪声水平低且稳定，包括电子束放射性、空气湍流和振动。为了提高样品的安全性，即使在环境条件变化不稳定的情况下，腔室也能减少真空，以更安全地操作。高水平的SEM腔室稳定性也保证了准确、均匀的图像。该仪器还具有一个具有14位CCD摄像头的高分辨率数字成像单元,其有效像素面积为2048 x 1536,使其能够捕获样品中最小的细节。它还提供了一个独特的双成像机器，可以同时成像具有变化电子束能量的样品。这种方法提供了样品的三维（3D）视图，因为它可以用低能电子和高能电子成像。综上所述,JSM 6335F SEM提供了卓越的性能、多功能性和易于在各种成像应用程序中使用的完美组合。它具有很高的精确度和细节，可用于观察微观和纳米级样品结构。它具有集成的分析工具、高分辨率数字成像和低噪声级别,是满足各种表面分析和表征需求的理想工具。