二手 JEOL JSM 6335F #293751833 待售

图为 已使用的 JEOL JSM 6335F 待售
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扫描式电子显微镜（扫描电镜）
製造商
JEOL
模型
JSM 6335F
ID: 293751833
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) SEI Detector Deben stage Magnification: 10x - 500000x Resolution: 15 kV: 1.5 nm (WD 4 mm) 1 kV: 5.0 nm (WD 4 mm).
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