二手 JEOL JSM 6335F #293751833 待售

JEOL JSM 6335F是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料科学、环境分析、法医学、半导体和电子器件分析、生物应用等各个学科的多种分析成像和光谱学用途。JSM 6335F具有一个包含钨丝的野外发射枪，可以在三种不同的加速电压下操作：0.2 kV、1.0 kV和15.0 kV。高功率电子光学器件在极低的光束能量下提供出色的分辨率和高对比度。另外，电透镜电流控制器能够对光束轨迹进行非常精确的操纵和失真校正。6335F的最大扫描面积为30 x 30毫米。JEOL JSM 6335F提供多种成像模式，如二次电子成像（SEI）、反向散射电子成像（BEI）和使用高速能量色散X射线（EDX）探测器的X射线光谱成像（XSI）。能量色散X射线光谱（EDS）设备让用户识别元素，快速分析元素的空间分布，甚至在大面积收集广泛的光谱。这个分析性的SEM也可以配备各种配件，取决于用户的应用。Argus激光阴极发光系统可用于大面积图像的地理参考和缝合，可用于非导电材料的成像。辉光放电装置能够产生高达1.5 mA的电流，适用于测量金属和半导体表面反应的分子量和动力驱动力。该SEM旨在满足现场排放技术的需求。低束电压有助于降低样品充电效果，并最大限度地减少二次电子产生。工作距离长，加上热电子抑制，甚至可以成像非导电材料。减少失真的检测器机器有助于解释舞台的运动，以确保对样品的可靠、不失真的概述。JSM 6335F是一个功能强大的SEM,为用户提供样本曲面和元素分布的高分辨率图像。该仪器是分析微量和纳米级材料的宝贵设备。