二手 JEOL JSM 6340F #145143 待售

JEOL JSM 6340F是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），具有出色的成像能力。该设备专为材料科学、半导体、纳米技术和生物学研究领域的各种应用而设计。JEOL JSM-6340F具有全自动、紧凑的柱设计，并配备了一系列探测器，包括EDX（能量色散X射线光谱仪）系统、反向散射电子（BSE）探测器和二次电子（SE）探测器。这款SEM还配备了一个顶级的线下真空（LV）二次电子成像单元。全自动扫描控制提供了快速、可靠的数据采集功能,允许通过各种放大倍数对各种样品类型进行高分辨率成像。高性能的SE检测器提高了高放大倍率下捕获图像的对比度和清晰度。JSM 6340 F的一个独特特点是其出色的低真空二次电子成像机，该技术提供了从5倍到300,000倍的广泛放大，为研究人员提供了一种用于多尺度样品分析的强大工具。该工具提供各种试样阶段，包括大直径、低背景的LV试样初始化特征和自动翻译阶段。JSM 6340F提供了广泛的功能,使数据采集和分析更加简单快捷。自动扫描速度控制确保准确的样品准备和成像.反向散射电子（BSE）探测器帮助研究人员确定样品的组成和特性。能量色散X射线光谱仪（EDX）使用户能够快速分析未知样品元素并进行元素分析。此外,该资产还配备了多尺度成像软件,使用户能够轻松处理JEOL JSM 6340 F捕获的图像。该高级软件提供了一系列功能,如自动缩放、彩色编码和缩放,使研究人员能够更有效地分析其数据。综上所述，JSM-6340 F扫描电子显微镜是广泛的材料科学、半导体、纳米技术和生物研究应用的理想工具。高度自动化的仪器在5倍至300000倍的放大倍数范围内提供出色的成像能力。此外，该型号配备了广泛的探测器，包括一个反向散射电子（BSE）探测器、一个能量色散X射线光谱仪（EDX）设备和一个顶级的线下真空（LV）二次电子成像系统。为了便于进一步的数据分析，仪器还配备了先进的多尺度成像软件。