二手 JEOL JSM 6340F #293601758 待售

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ID: 293601758
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6340F是一种扫描电子显微镜(SEM),具有高质量、高性能的设计,可满足广泛的样品成像和分析需求。JEOL JSM-6340F具有较大的景深,允许在不同的深度观测物体。样品被聚焦的电子束照亮,然后扫描整个样品,从而可以创建3 D图像。JSM 6340 F具有自动对焦系统、图像采集系统和高性能电子枪,具有广泛的分析能力,包括材料分析和元素映射。电子枪能够操作到10kV,可以用于元素映射、成像和源分析。先进的图像处理系统和数字信号处理可以对图像进行清晰的细节和分辨率分析。JEOL JSM 6340 F设计灵活,允许使用各种不同孔径的探测器和探测器。这允许捕获信号、二次电子和反向散射电子,或全部三个,从而产生互补的图像。该范围还有一个无冻原操作,确保最佳性能,同时保持节能。JEOL JSM-6340 F提供先进的软件功能和直观的用户界面,便于设置和操作。该软件包括一个板载的操作程序库和微调参数以获得最佳结果的能力。广泛的软件包可用于自动化和数据分析,如可编程注释工具、自动边缘分辨率功能以及自动峰值检测和测量算法。JSM-6340F可为各种样本量提供可靠、高性能和多用途的成像功能,从而获得可靠和可重现的结果。其直观的用户界面允许方便的设置和操作,使其成为材料研究、工业分析和许多其他应用的理想选择。
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