二手 JEOL JSM 6340F #9276338 待售

JEOL JSM 6340F是一种扫描电子显微镜（SEM），专为高度详细、高分辨率的成像而设计，适用于广泛的应用。JEOL JSM-6340F是一种像差校正场发射枪SEM，提供了无与伦比的半导体器件和电路分析、故障分析和形态学检查。它以超稳定可靠的纳米级成像设备为后盾，用于最高质量的成像。JSM 6340 F具有广泛的成像能力，包括反向散射电子（BSE）成像、二次电子（SE）成像和组成光谱成像。它甚至可以检测具有集成EDS检测器功能的最小低温样品变化。其高端场发射电子源提供了高达0.8纳米的超高稳定性和分辨率。先进的光学柱利用双透镜散光系统，提供一个极其稳定的成像环境与先进的光学单元。它具有可在操作过程中进行角度校正的角偏转器，使其成为更高成像分辨率的理想工具。JSM 6340F具有多种高级功能,使其成为高级映像的理想选择。它配备了一个高真空室，该室经过设计，可以在超高真空环境中进行样品成像。腔室也可以在较低的真空条件下操作，使其适合检查需要较低真空条件的样品。它还提供各种高级控制功能和功能。它包括一个用于调节场发射电流和加速电压的控制面板。它还具有使用内置操纵杆控制焦点和柱头设置的能力。它还具有一个自动偏转反转机，允许快速成像恒定的物体大小和放大。此外，JEOL JSM 6340 F通过其软件提供高级成像能力。它具有增强版本的TEM映像软件,可为用户提供执行像差校正后的TEM映像任务所需的工具。它还包括一个功能强大的3D图像重建和分析软件，允许用户将来自各种图像的信息组合在一起，创建样本的三维图像。JSM-6340F是一种高级成像工具,可帮助用户为各种应用程序创建高度详细、高分辨率的成像。它能够检测最小的低温样品变化，并提供各种高级控制和成像功能。凭借其先进的光学资产，它可以为用户提供最优质的成像，并以超稳定可靠的纳米级成像模型为后盾。