二手 JEOL JSM 6340F #9364860 待售

JEOL JSM 6340F是一种扫描电子显微镜（SEM），用于产生小型、形态复杂结构的高分辨率图像。它能够检测到小至0.1纳米的特征，从而实现小结构特征的可视化，而无需进一步放大。它具有场发射电子源，能够产生电流小于5毫安的电子束，使图像具有高分辨率和图像稳定性。此外,SEM的数字真空设备在色谱柱中提供了清晰的真空,从而形成了一个高度稳定的成像平台。为了获得没有人工制品的高质量图像，JEOL JSM-6340F提供了一种先进的二次电子探测器，它具有光阻滞器和柱内能量滤波器。阻光器有助于减少外部光源造成的图像失真，而柱内能量滤波器则可以通过允许最佳电子能量调节来调节以增加对比度。这会导致更高的对比度图像,尤其是在识别小特征时。而且，JSM 6340 F的标本室支持包括可变压力（VP）、低真空（LV）、扫描透射电子显微镜（STEM）模式在内的多种观察模式。VP模式抑制了对物体的充电效果，而LV模式便于对非导电样品成像。至于STEM，显微镜的像差校正物镜允许量化样品组成。JEOL JSM 6340 F也很好地配备了柱内成像系统。这一单元包括一个柱内偏转器和扫描线圈，用于样品定位和聚焦，以及一个精确扫描阶段，它允许稳定的样品安装和可重复扫描。此外，内置的低漂移隔振机为最大限度地减少相机震动造成的截面变形和样品图像倾斜提供了额外的支持。JEOL JSM-6340 F带有精确对准和自动扫描模式，用于扫描模式中的微调。对准系统对样品进行精确快速对准，以获得最佳扫描分辨率。还有一个内置的自动对焦工具,可帮助保持一致的图像质量和分辨率。总之，JSM-6340 F是一种先进的扫描电子显微镜，能够产生低漂移、低噪声的高分辨率图像。它配备了各种功能和附件，以增强其功能，使其成为形态学复杂结构成像的理想选择。