二手 JEOL JSM 6360LV #9373179 待售
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ID: 9373179
优质的: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM)
61090 2-Axis motor stage
Maximum specimen size, 6" (80 x 40 mm)
34470 Backscatter electron detector
Operation keyboard
LGSHL Solvent holder
CRT Monitor
65020 PRD2 Photography
65040 CSI2 Scan image photography
Operation keyboard
49020 Chiller
47414 PC:
(2) USB Ports
PC Card slot
2004 vintage.
JEOL JSM 6300LV扫描电子显微镜（SEM）是一种用于成像、元素分析和X射线微分析的高分辨率仪器。这种通用的SEM可实现低真空和高真空操作,并具有1-15 keV的独特低压能力,便于在二次和反向散射电子成像模式下观察损害最小的样品。仪器细节包括5 nm点收敛角、25 kV场发射电子源、20 W小点直径低至0.3 μ m、5W K β X射线源、三轴X/Y/Z级、2.5-5 kW峰值功率和15 keV运行。该JSM 6300LV提供高分辨率成像，元素分析和X射线微观分析的各种样品。二次电子整体放大1000倍的理论分辨率为0.8 nm，使得各种样品的亚微米成像成为可能。这个SEM还包括一个同时成像和光谱的检测系统，它保证了快速的数据采集。电子探测器支持顶部和底部成像，并包括一个用于非导电样品成像的5keV BSE探测器。另一个安装在光轴上的电子检测器通过将检测器的灵敏度从5 keV提高到15 keV来改善反向散射电子成像。SEM还能够成像极低电流的样品，包括固体、液体甚至气态样品。现场排放源还确保稳定和一致的可重复性能。先进的成像系统包括多种监控功能。这使操作员能够在多个成像配置之间切换,从而能够对更广泛的样本进行调查。JEOL JSM 6300LV有一个很大的工作区域可供各种样本量使用。它还提供了可调的腔室形状，使其适合用于各种工作设施和任务。此外，该仪器还配备了强大的导航和图像处理软件，能够进行复杂的分析和创建报告。JSM 6300LV是用于半导体研究、生命科学、环境科学、地球科学和材料科学等各种研究领域的宝贵工具，仅举几例。JSM 6300LV的特点广泛，工作电压低，是成像、元素分析和X射线微观分析的理想仪器。
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