二手 JEOL JSM 6390LA #293609260 待售
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ID: 293609260
优质的: 2006
Analytical Scanning Electron Microscope (SEM)
With Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS/EDX)
EDX Detector non-functional
2006 vintage.
JEOL JSM 6390LA是专门设计用于半导体故障分析和过程控制应用的扫描电子显微镜（SEM）。它是一种可变压力扫描电子显微镜（VP-SEM），提供优于传统SEM的成像能力。VP-SEM电子柱允许广泛的操作条件，从而导致更高的探测深度和更干净的图像，而无需样品充电。基础设备配备了冷FEG炮和场发射电子源，提供了出色的相干性能和束稳定性。该枪采用双镜头光学系统设计，可提高图像的亮度和分辨率。自动调谐电子柱允许简单的操作和用户定义的技术来获得最佳结果。JSM 6390LA采用高分辨率的低真空SE检测器,可提高1.3 nm的分辨率和高达10 keV的检测极限。集成分辨率校准单元提供了一种可靠、精确的分析样品到纳米级的方法。此外，显微镜还包括一个先进的BackScatter电子探测器（BSE）和一个二次电子探测器（SE），以进一步增强成像能力。在操作方面，JEOL JSM 6390LA提供了易于使用的用户界面和可选的自动或动手控制所有功能。SEM可以手动操作,也可以使用内置电源按钮打开和关闭电源。其他有用的功能包括导航器、视频监视器和在对准和校准过程中引导用户的照明标线。为了提高安全性和安全性，JSM 6390LA还提供了防电磁干扰、电磁屏蔽和防静电涂层等多种用户保护措施。此外，该机器还包括内部和外部光束消隐成像功能，以防止电子照射对样品造成损害。总体而言，JEOL JSM 6390LA是一种世界级的扫描电子显微镜，为半导体故障分析和过程控制提供卓越的图像质量、分辨率和检测能力。JSM 6390LA具有易于使用的控件、出色的优化功能以及先进的安全和安保措施,是寻求利用SEM技术诸多优势的用户的理想选择。
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