二手 JEOL JSM 6390LA #9205545 待售

ID: 9205545
Analytical scanning electron microscope.
JEOL JSM 6390LA是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在为各种材料和样品提供高分辨率成像解决方桉。该仪器采用了几种先进的功能,使研究人员能够以极好的准确性和可靠性对纳米级样品进行分析。显微镜装有场发射枪(FEG)源,产生高光束电流以提高信噪比。此外,该源还配备了单色仪,以减少成像过程中的色差。此外,SEM还配备了抗反射涂层,减少了散射电子对背景噪声的影响。显微镜的设计可实现多种成像模式,包括高分辨率二次电子成像、反向散射电子成像和用于元素分析的创新彩色EDX检测器。仪器的设计几乎可以无缝地在成像模式之间切换,而无需手动调整,从而在成像技术之间轻松过渡。再者,SEM的设计允许在单个实验中使用多个标本持有者,例如二次电子检测器、EDX检测器和反向散射电子检测器都可以同时使用。此外,该仪器还有一个内置的高真空差分泵送系统,该系统允许样品以最小的干扰在真空室内移动。该仪器还配备了电动采样台,可自动扫描和成像大型采样。机动化阶段能够以高达0.03 um的精度定位样品,并可用于在几分钟内获取一系列高分辨率图像。总体而言,JSM 6390LA是一种先进的扫描电子显微镜,具有许多创新功能,旨在为各种材料和研究提供可靠、准确的成像解决方桉。该系统效率高,允许跨多种模式快速成像,而且手动调整最少。显微镜的多功能性使其成为需要高分辨率、可靠和先进成像解决方桉的研究的理想工具。
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