二手 JEOL JSM 6390LV #293647290 待售
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ID: 293647290
优质的: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
GATAN Alto 2100 Cryo chamber
Resolution: 3.0µm at 30kV and 15µm at 1kV
Accelerating voltage range: 0.5kV-30kV
Magnification range: 5x - 300,00x
Imaging modes:
Secondary Electron (SE)
Back Scattered Electron (BSE)
Specimen size: 150mm x 45mm
Specimen stage: Eucentric stage axis motorization
Automated filament heating and alignment
2006 vintage.
JEOL JSM 6390LV是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于一系列具有挑战性的应用，从材料表征到成像各种样品。它是我们最新一代的LV系列,将突破性的创新与先进的成像和分析能力相结合。JSM 6390LV使用增强了一系列功能的高分辨率成像系统,允许用户以极好的清晰度探索样本。此外，其更新的Digital Peltier阶段允许用户在-50摄氏度至+500摄氏度的温度范围内扫描样品；允许在最极端的条件下进一步检查具有复杂纳米特性的样品。对于峰值分辨率和精度，JEOL JSM 6390LV采用0.5-30kV的可变波束电压和0.5-30kV的加速度电压。这允许从x 1,000到x 400,000的有效放大范围,使用户可以深入了解其样本的结构。这也使得不受振动等环境因素影响的漂移达到令人印象深刻的最小化，以确保可靠和可重复的结果。JSM 6390LV也由两个平行探测器组成；二次电子探测器（SED）和反向散射电子探测器（BSD）。通过使用这些专有的检测器，用户可以获得关于其样本的各级信息。角度提取允许通过SED改进曲面细节,而BSD则使用一系列分析模式更深入地了解样品的元素组成。该模型还具有集成的显微显微镜，允许用户在SEM和显微显微镜之间轻松切换，而不会干扰样品。此通用工具是一项宝贵的资产,因为它允许用户使用一个设置进行多次实验,从而节省了宝贵的时间和资源。JEOL JSM 6390LV是任何实验室进行表面分析实验的理想仪器.它具有多种多样的功能、先进的特性和方便用户的控制功能,使其成为任何表面检查、缺陷分析或材料表征研究实验室所必需的。
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