二手 JEOL JSM 6390LV #293810359 待售
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ID: 293810359
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
HV mode 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV)
LV mode 4.0 nm (30kV)
Magnification:
x8 to x300,000 (at 11kV or higher)
x5 to x300,000 (at 10kV or lower)
Operations:
Optics
Specimen stage
Image mode
LV Pressure
Standard recipe
Image mode:
Secondary electron image
Composition
Topography
Shadowed
Objective lens:
3 Stages
X,Y Adjustable
Specimen stage:
Eucentric type
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5mm to 48mm,
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360°
Electron gun
Zoom condenser lens
Super conical objective lens
Stigmator memory
Electrical image shift ±50µm (WD=10 mm)
Motor control: 2 Axes, 3 Axes and 5 Axes
LCD Monitor, 15"
Digital zoom
Dual magnification
Network: Ethernet
Fully automated pumping system
Switching vacuum mode
LV Pressure: 1 to 270 Pa
(2) JED-2300 EDS
Accelerating voltage 0.5 kV to 30 kV
IBM PC
Operating system: Windows XP.
JEOL JSM 6390LV是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料分析和故障分析。它配备了场发射枪（FEG），以产生细聚焦电子束，用于扫描样品并产生图像。显微镜有多种特性，可以让使用者得到高分辨率的影像，除了提供一系列的标本准备和分析的选项。JSM 6390LV提供大视野，工作能力从10nm到30µm。FEG具有场曲率补偿功能,可提高图像分辨率。加速度电压可以从0.9kV调到30kV，提供一系列有目的的应用。显微镜还具有增强的信噪比，确保了出色的对比度和相位图像。此外,JEOL JSM 6390LV还配备了一个能量滤波器,可用于波长色散光谱（WDS）和能量色散光谱（EDS）。JSM 6390LV配有一系列样品支架，包括钨尖、碳涂层支架、凹陷样品支架和透镜内样品支架。后者尤其具有6轴电动样品运动，使使用者能够在电子束中精确定位样品。SEM还配备了高真空制备和观测室，允许原位二次电子成像。为了方便用户，修改阶段、样本持有者和观测室都可以通过一个用户友好、多语言的触摸屏进行控制。此外，所有显微镜数据，包括图像和存储的信息，都可以通过网络进行远程访问和可视化，从而允许用户之间进行协作。综上所述,JEOL JSM 6390LV是一种功能强大的SEM,它提供高分辨率成像,具有广泛的应用。它还提供了许多增强用户便利性的功能,例如遥控触摸屏界面,使其成为材料和故障分析的理想工具。
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