二手 JEOL JSM 6400 #293763923 待售

JEOL JSM 6400扫描电子显微镜（SEM）是一种通用的分析工具，可以让研究人员研究材料的纳米结构、化学和电子性质。这种高端、多用途的仪器设计成既简单又准确地产生高分辨率的图像和数据。JSM 6400以电子枪装备四枪为特色，包括高效率、尺寸控制的野外发射枪、冷阴极枪和两把热辅助枪。该系统旨在提供高分辨率成像能力和广泛的动态范围，以准确地表征各种材料的纳米级结构细节。为了进一步提高JEOL JSM 6400的EDX分析单元的功能,提供了X-MAXN硅漂移探测器（SDD）选项。该探测器提供高能分辨率，同时改进了信噪比，用于检测薄样品中光元素之间的微小差异。SDD提供了优于其他能量色散X射线（EDX）探测器的优势,因为它提供了更高的计数速率和更短的计数时间。除了电子枪机和EDX探测器提供的成像能力外，JSM 6400还具有离轴红外（IR）成像探测器。这种探测器使研究人员能够对含有少量有机物质的样品进行成像和分析，例如生物分子，以及标准SEM可能看不到的其他特征。为提供更高的灵活性和功能,JEOL JSM 6400配备了多种计算机控制功能。该仪器能够连接各种附件和自动化功能,例如自动舞台、自动图像采集和多样自动安装。这些功能使研究人员能够以更高的精度和速度建立更大的数据集。总体而言,JSM 6400是一种高度通用的高级SEM,适用于各种材料分析应用。它具有高性能电子枪工具、EDX探测器、红外成像探测器和各种计算机控制的自动化功能,使研究人员能够对各种样品类型执行高分辨率、准确的表征。