二手 JEOL JSM 6400 #9075095 待售

JEOL JSM 6400扫描电子显微镜（SEM）是一种功能强大且用途广泛的分析仪器,能够产生有机和无机材料的高分辨率图像。该仪器提供了广泛的特性和功能，具有无与伦比的易用性。JSM 6400先进的电子光学器件允许用户以小于千分之一毫米的分辨率对样品表面进行成像。这提供了高度复杂的3D结构的详细地形图,可用于广泛的应用,从研究曲面属性到执行自动点对点测量。JEOL JSM 6400的分析能力特别适合于绝缘体、半导体、封装材料、PCB和MEMS元件等材料的分析。该仪器能够选择电子能量和加速电位进行成像，使其成为各种领域的理想选择，从故障分析和质量控制到材料科学研究。对于成像生物样品，仪器配备了可变压力（VP）或低真空室，允许改善非导电样品如蛋白质和其他有机化合物的成像。此外，一组探测器可用于收集反向散射电子（BSE）、二次电子（SE）、X射线（EDAX）和阴极发光（CL），使得JSM 6400成为强大的材料表征工具。除了成像之外，仪器还能够自动进行点对点测量，从而能够同时进行扫描和数据采集。此特定函数可用于一系列分析应用,如样品表面粗糙度分析、表面积/体积剖面分析、极性/电荷分布确定和晶粒尺寸/形状分析。总体而言,JEOL JSM 6400提供了广泛的高级特性和功能,使其成为各种研究和分析应用程序的理想选择。凭借可靠的性能、直观的操作和全面的分析选项,JSM 6400为研究人员提供了研究最复杂材料的宝贵工具。