二手 JEOL JSM 6400 #9259735 待售
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ID: 9259735
优质的: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX Detecting unit
HASKRIS LRO50HE Chiller
Computer
Accessories
Manuals
1997 vintage.
JEOL JSM 6400是一种高级扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和分析应用。它是专为满足现代显微镜的需求而设计的，具有创新的特点和高标准的性能。显微镜装有3.3纳米点对点分辨率，能够用EHT-2探测器产生高分辨率图像。显微镜上的气锁室允许引入样品，并允许在成像过程中对样品进行安全操作。这允许在成像过程中进行样品处理，以及样品从显微镜转移到附着的低温探针。JSM 6400的晶体学选项允许分析晶体结构，并提供了创建整个晶格的3D重构的能力。这使得晶相、微结构和缺陷分布的识别更加容易。JEOL JSM 6400还能够进行先进的透射电子显微镜（TEM）成像。这种先进的成像技术可用于进一步分析纳米级材料、纳米加工和化学成分。可用于观察单个原子或分子，这对于了解纳米尺度的物理和化学性质很重要。JSM 6400是用于成像和分析应用程序的通用工具,具有一系列功能,可用于各种应用程序要求。其先进的性能和能力，加上用户友好的操作，使其成为任何现代显微镜的完美选择。
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