二手 JEOL JSM 6400 #9288943 待售

ID: 9288943
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6400是一种扫描电子显微镜(SEM),用于多种应用,包括成像、分析以及微量和纳米级测试样品的3D重建。它可以同时使用有机材料和无机材料,提供高分辨率图像,具有卓越的清晰度、准确性和细节。JSM 6400利用电子光束扫描和成像所研究样品的专利电子光设备。产生的图像产生了高达9 nm的横向分辨率的令人印象深刻的细节水平(取决于设备配置),并且适合各种研究领域,从半导体制造到生命科学。该装置还配备了多种探测器,包括用于定性和定量元素分析的能量色散X射线(EDX)探测器、用于捕获地形信息的二次电子探测器以及用于深度剖析的反向散射电子探测器。这些探测器为全面研究测试样品提供了强大的组合。JEOL JSM 6400还包括数码相机,提供先进的3D成像能力。通过使用图像缝合功能,用户可以创建其样本的3D渲染,从而可以分析难以查看的详细信息。该设备还支持多种数据格式,使用户能够以各种方式轻松导出其发现。最后,该装置提供了一个独特的自动对焦系统,可以快速准确地获得测试样品的最佳观看位置。直观的控制单元可以让用户快速、准确地调整曝光时间、亮度、放大倍数等参数,达到理想的效果。总之,JSM 6400是任何需要高功率SEM设备的研究人员或实验室的绝佳选择,该设备能够非常精确地渲染详细的图像。多种多样的探测器、精密的3D成像能力以及自动对焦机,使这款设备成为材料科学、生命科学和工程领域一系列应用的理想选择。
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