二手 JEOL JSM 6400 #9382242 待售

ID: 9382242
Wafer Scanning Electron Microscope (SEM) Control panel Power supply: 200 V, 50/60 Hz, Single phase, 30 A.
JEOL JSM 6400是一种先进的扫描电子显微镜(SEM)。显微镜配备了结合了次级电子和反向散射电子的成像系统,以及可选的反射电子,产生了一个样品表面的一系列分析信息。该系统对于成像表面地形、形状、组成、污染和其他表面特征都是有效的。JSM 6400提供高达0.02 nm的分辨率范围。这种出色的分辨率提供了精细的地形信息,并允许对纳米级物体特征,如纳米粒子或原子结构进行成像。此外,JEOL JSM 6400提供了最先进的能量色散光谱仪(EDS)用于元素分析。通过将来自高分辨率图像的信息与能量元素分析相结合,用户不仅可以识别粒子或特征的大小,还可以识别组成。JSM 6400配备了高稳定电源和高精度级控制。这样可以确保准确和可重复的设置以及高度可靠的扫描。高真空冷凝器、样品室和物镜都有助于增加光学和景深,提供更清晰的图像,甚至改善小特征的对比度。JEOL JSM 6400还配备了能量滤波透射电子显微镜(EFTEM),该显微镜滤出因多次散射事件而降解的电子,允许更高对比度的图像。它还具有一系列探测器,可提供不同类型的图像和检测功能。这些探测器包括二次电子探测器、反向散射电子探测器、反射电子探测器、能量色散光谱仪和模拟功率探测器。JSM 6400还具有多种自动化操作,如样本对齐和聚焦、网格映射和图像控制。它有一个大的腔室,与广泛的样品持有者兼容,这使得它非常适合广泛的材料。这种通用工具使JEOL JSM 6400成为表面科学、纳米技术和材料分析研究的宝贵资源。
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