二手 JEOL JSM 6400F #136301 待售

JEOL JSM 6400F是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），用于多种研究和制造应用。它具有出色的分辨率,具有带柱对焦系统（CFAS）的光束系统,并且能够生成超高分辨率的样本图像。JEOL JSM 6400 F配备了二次电子（SE）、反向散射电子（BSE）和可伸缩X射线分析能力。它能够在一定的工作压力范围内以环境SEM （ESEM）模式和真空模式运行。添加自动级控制器可实现自动对齐、粗糙和精细的样品定位调整。电子源产生4.5 kV、1.5 pA光束，偏转范围为10.2 cm，光斑大小小于5 μ m。它采用柱聚焦对准系统（CFAS）提供高对比度成像.野外发射枪（FEG）和能量色散光谱（EDS）室提供了最佳性能.样品室装有舞台插件，便于扫描小面积样品。该装置的图像分辨率为0.9海里，与核尺寸形成对比，能够分析各种材料的特性，直至原子分辨率。也可用于产生3D样本。JSM 6400F是一种高度可定制的仪器,可作为可选功能提供预选方桉、图像移位校正和自动聚焦示例等工具。该装置还能够进行堆迭成像分析和数码相机操作。它有一个大屏幕，有一个12.1英寸的彩色触摸面板，可以完善数据操作和显示功能。JSM 6400 F除了出色的成像功能外,还提供全面的文档和数据分析功能。整个图像捕获和分析过程是自动化的，有一个专用软件包，使用户能够利用各种图像处理和分析工具。例如,ProSpec图像捕获和分析软件包使用户能够可视化、测量和比较示例图像。