二手 JEOL JSM 6400F #293590368 待售

JEOL JSM 6400F是一种场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）。它是材料研究和分析的有力工具，用于观察纳米到微米尺度的特征。FE-SEM为样品提供了极高强度的电子，使其特别适合观察低电子吸收性材料，例如某些半导体。JEOL JSM 6400 F使用野外发射枪（FEG）实现其高分辨率成像，与传统的SEM相比得到更高分辨率的图像。与其他设备相比，FEG还提供了更低的加速电压，使其成为对易碎样品成像的理想选择。该6400F还提供了一系列分析功能，允许用户执行元素分析和化学状态映射。它使用超高分辨率能量色散X射线（EDX）检测器，它能够检测到分辨率最高至的元素（Be）。这使得显微镜JSM 6400F能够检测样品中存在的杂质和其他化学态。另外，显微镜的电子束感应电流检测器可用于检测样品中的少数载流子。这使得它对于跟踪p-n结和其他亚微米特征，如电通路和通路很有用。该6400F还提供了其他功能，如小样板和各种常规和低真空模式。这确保了它适用于多种应用，包括传输、反射和反向散射成像。JSM 6400 F是为材料科学应用而设计的多功能、功能强大的显微镜。它提供了市场上所有SEM的最高分辨率和一系列高级分析功能。理想的成像低吸收材料和特征检测，6400F一定能满足任何材料科学研究项目的要求。