二手 JEOL JSM 6400F #9065264 待售

JEOL JSM 6400F是一种先进的分析和成像扫描电子显微镜（SEM）。JEOL JSM 6400 F提供超高分辨率图像,用于详细检查各种样品。它具有超宽视野，包括一个大样本室，非常适合生物、医学、材料科学和半导体工业领域的研究。它配备了高性能电子柱、先进的反向散射电子探测器和灵活性，允许用户访问一系列专门技术，包括元素映射、3D-reconstruction和生物成像能力。JSM 6400F柱由超高分辨率（UHR）电子光学技术组成。此技术旨在最大限度地减少像差,并最大限度地实现无障碍视场。它使用户能够获得比传统SEM仪器更高分辨率的图像。JSM 6400 F集成的低压性能保证了精细有机样品的稳定成像和较低的加速电压（<5kV）。JEOL JSM 6400F还配备了反向散射电子（BSE）探测器，提供具有直接表面信息的视频对比图像。它显着改善信噪比，使样本年龄在广泛的样本范围内定量。集成的低真空系统通过从超高真空（UHV）到高真空（HV）在长期运行过程中最大限度地减少污染和降低噪声来确保样品稳定性。在灵活性方面，JEOL JSM 6400 F能够获得一系列专门的分析和成像技术，如3D-reconstruction、生物成像、光谱成像和元素映射，使其适合多种类型的材料表征应用。此外,随附的自动化系统允许用户快速方便地捕获高分辨率图像。可以通过直观的软件界面远程控制JSM 6400F的扫描阶段,使用户能够控制分析区域的大小并捕获更广阔的视野。综上所述，JSM 6400 F是一种通用、功能强大的高级成像和分析技术SEM。其宽视场特性、先进的电子柱、低加速电压选项使其适合于材料科学、半导体工业、生物医学研究等领域的应用。此外，其灵活性和高度自动化的系统使其成为详细材料和生物分析的节省时间和高效的工具。