二手 JEOL JSM 6400F #9080576 待售

JEOL JSM 6400F是一种扫描电子显微镜（SEM）,能够在极低的加速电压下对各种样品类型进行难以置信的高分辨率成像和分析。它的特点使得它成为许多应用的绝佳选择，包括材料表征、故障分析以及设备和纳米结构的成像。JEOL JSM 6400 F具有独特和符合人体工程学的设计,使用户可以访问三种不同的操作模式。这些模式包括：低电压模式，可对非导电材料或半导体器件进行成像；高压模式，非常适合查看较厚的导电样品，如金属材料和聚合物；焦点和分析模式，允许将特征放大至20,000倍，分辨率为0.7纳米。JSM 6400F还配备了强大的附加功能选择。这些特点包括超高分辨率光学探测器、自动化样品装载机、自动光束对准、内置场发射源、集成低真空系统和自动对焦系统。JSM 6400 F还为更高级的应用程序提供了几种不同的分析功能。这些选项包括电子探针微分析（EPMA）、能量色散X射线光谱（EDXS）和扫描电子显微镜（SEM）。JEOL JSM的高级功能6400F使其成为许多不同应用程序的理想选择。它易于使用和高效的设计使用户能够快速加载样品,调整光束以获得最佳效果,并在一次坐姿中获得各种不同的图像,使其成为当今最好的SEM之一。