二手 JEOL JSM 6400F #9089825 待售

JEOL JSM 6400F是一种高性能场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），旨在为研究和工业应用提供突破性的成像和分析能力。与传统的SEM相比,它高效的设计提供了一流的性能,从而实现了明显更高的分辨率、更高的放大倍率、更低的噪音和更快的成像速度。JEOL JSM 6400 F具有野外发射枪（FEG），与标准肖特基或钨场发射源相比，提供了优越的分辨率和图像分辨率。FEG能够产生一系列介于0.2至30 KeV之间的初级电子能量。这样就可以实现更大范围的成像能力,并提高检测和识别样品微妙特征的能力。该6400F还具有较大的景深和快速的扫描速度,即使将焦点从近表面特征更改为下表面特征,也能实现精确、高分辨率的成像和数据采集。JSM 6400F配备了高性能、空间均匀的电子透镜系统，利用镜头内和镜头后冷凝器透镜进行优化，以实现最佳像差校正和分辨率。此外,它还配备了最新的图像预处理技术,以提供最佳的可用图像。JSM 6400 F还具有多种分析和成像功能，包括能量色散光谱（EDS）、波长色散光谱（WDS）、电子反向散射衍射（EBSD）、阴极发光（CL）和双束聚焦Ib。这些最先进的功能使JEOL JSM 6400F分析和成像技术的宝贵工具。JEOL JSM 6400 F还提供了广泛的软件功能，以支持高效有效的操作。其中包括一个自动化的标本阶段控制系统、用于管理标本扫描的高级工具以及用于高效操作的直观用户界面。JSM 6400F是一种功能强大且用途广泛的成像和微观分析仪器,具有广泛的功能和功能,可满足当今研究和工业纳米技术应用的需求。