二手 JEOL JSM 6400F #9102730 待售

JEOL JSM 6400F是一种场发射扫描电子显微镜（FESEM）,它结合了先进的特性和较小的尺寸,为各种材料研究应用提供高性能的成像、分析和测量工具。JEOL JSM 6400 F利用独特的野外发射枪（FEG），产生光束光斑大小小至一纳米的电子。这结合了独特的三重枪设计和先进技术，消除了样品充电和表面效果。单片工作流程包含用于同时成像的双检测器，允许高分辨率成像、化学分析和表面地形，精度无与伦比。试样室还提供低至1x10-6 Pa的真空水平，是研究高分辨率表面和光学现象的理想选择。JSM 6400F提供了成像、分析和测量性能方面的关键优势。高达8nm的高分辨率电子光学器件和像素分辨率,能够以无与伦比的清晰度对微小特征进行成像。扫描螺旋显微镜（SAM）和X射线能量色散光谱（EDS）的能力允许对标本进行原子级精度的化学分析。包括波长色散光谱（WDS）和电子反向散射衍射（EBSD）在内的先进技术可实现纳米区域的3D化学和晶体学成像。此外，低真空环境还确保在成像过程中不会发生任何变化，从而允许在长期实验中进行可靠的成像。JSM 6400 F具有用户友好、直观的软件界面,可有效控制所有操作参数和系统设置。此接口还允许实时数据捕获以及与其他分析工具的集成。自动化的样品准备工具有助于减少在样品准备上花费的时间，而自动化的分析工具则可以通过单击鼠标来分析显微镜数据。JEOL JSM 6400F是纳米技术、材料科学、半导体物理、半导体器件等领域研发的绝佳选择。