二手 JEOL JSM 6400F #9236172 待售
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已售出
ID: 9236172
优质的: 1989
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Emission gun: Cold FEG
Accelerating voltage: 0.5-30.0 kV
Secondary electron detector (Everhard thornley)
Specimen size, 6" (Exchangeable via airlock)
Load lock, 6"
Specimen stage movement: Stage controller (Joystick)
Diffusion vacuum
Anti-vibration table
Vacuum value: 10^-7 -10^-8 Pa
Documentation:
Image processing
Maintenance
Parts list
Mechanical parts list
Schematic electric scheme
No image acquisition
No EDS
1989 vintage.
JEOL JSM 6400F是一种扫描电子显微镜,用于高分辨率成像和分析样品。其独特的特点和能力使其适合于多种研究应用,包括材料科学、微型制造、纳米技术、医学和法医学。JEOL JSM 6400 F使用高分辨率的沸石涂层场发射枪(FEG),使用0.15 kV至30 kV的加速电压。利用这一动态范围,研究人员可以表征从非导电材料到高导电样品的样品。显微镜可以在SE或BSE成像模式下运行,微处理器控制的样品调平设备确保精确成像。JSM 6400F还拥有独特的数字图像处理系统,可用于优化成像条件和增强对比度。还有一款数码相机,配有三个RGB LED背光灯,可以让用户捕捉色彩范围高达2450万色的图像。显微镜还采用了由自动对焦机驱动的阶段扫描单元,允许最大30纳米的超小样本量。JSM 6400 F先进的电子光学技术可以提供比光学显微镜更高的分辨率。使用可选的镜头内探测器可以进一步提高分辨率。此外,还可以使用内置的时间解析EELS和EDX系统进行时间解析光谱分析。内置软件允许用户快速分析数据并生成3D重建。JEOL JSM 6400F还配备了功能强大的软件包,包括自动化样本导航和自动获取等功能。这些特性使得对样本进行成像和分析变得更加容易和快捷。显微镜还与广泛的配件和设备兼容,让用户进一步扩展其功能。总体而言,JEOL JSM 6400 F是一种先进的高性能扫描电子显微镜,提供出色的分辨率和对比度,使研究人员能够快速高效地成像和分析各种材料。
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