二手 JEOL JSM 6400F #9253741 待售

JEOL JSM 6400F是一种高精度扫描电子显微镜（SEM），用于成像分析多种材料的微观结构和组成。该仪器能够对表面特征进行成像，并使用能量色散X射线光谱法进行元素分析。JEOL JSM 6400 F提供一系列先进的成像功能,具有自动聚焦功能,放大倍数范围从10 X到50,000X,分辨率为1.0nm。此外，6400F还有一个新设计的低振动控制系统，在高分辨率运行时非常稳定。该仪器还具有0.1到20,000 cps的信号检测范围，可以在0.5到30kV的两个不同电子电压下运行，使其适用于广泛的材料和表面。此外，低噪声数字前置放大器显着降低图像噪声，尤其是在EDS分析过程中。反向散射的电子探测器也有50秒的快速时间响应，可以捕获图像而不会因为束穿透漂移而产生任何伪影。JSM 6400F配备了自动刻度和散光器单元,可最大程度地减少SEM中遇到的图像失真。该单元还可以方便地导航图像和分析的视场。此外,还提供了多种分析选项,包括线扫描、映射、电子束感应电流以及束反向散射和阈值模拟。最后，JSM 6400 F还有一个自动化的分析软件，允许快速的数据分析和报告。总体而言，JEOL JSM 6400F提供了一种强大而精确的扫描电子显微镜，用于分析和成像各种材料。