二手 JEOL JSM 6401F #9283953 待售

JEOL JSM 6401F扫描电子显微镜（SEM）具有高性能的5.5毫米柱，针对精细样品分辨率进行了优化。对准系统的先进设计允许快速、精确的放大调整，使精细细节的分辨率极佳。所使用的舞台马达光滑精确，允许精确的标本定位。SE检测器将检测器适应和优化到电子枪的输出，而反向散射电子检测器则允许优越的对比度成像。JSM 6401F提供了多种功能,包括电子探针电流和加速电压的自动优化、数字成像以及获得专利的电子束遮挡系统,以提高分辨率。这样可以对电子束进行精确微调，以最大程度地减少充电效果，提高样品清晰度。该单元还包括一个内置的后福柯倾斜系统，在任一方向上提供4到8度倾斜，以获取倾斜角度的图像。JEOL JSM 6401F还提供多种成像模式，包括反向散射电子成像；差分干涉对比度；扫描电子显微镜；和二次电子成像。二次电子成像模式产生样品表面的高分辨率图像，对于获取有关表面地形、表面结构、表面化学和表面结构函数关系的信息特别有用。除了成像能力外，JSM 6401F还可以用来分析标本的组成。它的能量色散X射线光谱仪（EDS analysis）能够探测广泛浓度范围内的元素。该单元还可用于对样品进行电子束刺激（EBS），并可测量样品的电、磁、光、电子性质。从结构上看，JEOL JSM 6401F是一个兼具轻巧和易于操作的多合一、紧凑的单元。柱和检测器直接集成到单元中，物镜设计成以最小的抖动移动，提供最高水平的性能和准确性。综上所述,JSM 6401F扫描电子显微镜是一种先进的高度通用的仪器,它提供出色的分辨率、多种成像和分析功能,以及坚固的结构设计。凭借其令人印象深刻的特点和可靠性，这款SEM是研究和工业应用的绝佳选择。