二手 JEOL JSM 6401F #9288544 待售

JEOL JSM 6401F
ID: 9288544
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6401F是一种扫描电子显微镜(SEM),提供高精度图像和功能,以帮助材料科学、生物学和半导体工程领域的用户。这种最先进的仪器工作距离大,舞台行进距离长,在30mm的工作距离下具有0.4nm的超常高分辨率。由于其场发射枪(FEG)电子源利用电子聚焦透镜制造出极明亮且高度集中的电子束,它实现了这一分辨率。这种高电子束亮度提高了成像对比度、图像分辨率,并确保了最大精度。JSM 6401F允许用户通过各种模式对2D和3D特性进行观察,如二次电子成像、可靠的亮场成像和自动对焦成像。此外,高角度环形暗场(HAADF)提供了比传统明场成像更强大的晶体结构分析。通过使用HAADF成像,用户能够精确测量和量化精细结构。二次电子传输检测器提供了多站、亮度和对比度、伽玛、可变交叉、电子背景和图像定位等多种选择。这种多样的功能选择有助于揭示几乎所有昆虫、矿物或其他物体的细微细节。JEOL JSM 6401F具有广泛的放大倍率和广泛的工作距离,是常规和高端科学显微镜应用的理想选择。有了多种电子枪设置,仪器还可以用来观察特别难以成像的物体,如微电子元件、聚合物、金属和氧化物,以及细胞细胞器、活细胞、组织样本等。简而言之,JSM 6401F是一种用途广泛、功能强大的扫描电子显微镜,具有精密的成像技术,可应用于各种观测和环境。对于任何需要精细图片和精确测量的人来说,由于其出色的特性,如高分辨率、高对比度和广泛的应用范围,它是一个极好的选择。
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