二手 JEOL JSM 6460LA #9362208 待售

ID: 9362208
优质的: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM) 2004 vintage.
JEOL JSM 6460LA是一种用于高分辨率成像和分析的扫描电子显微镜(SEM)。它能够收集原子和纳米级样品的详细图像和分析数据。配备野战发射枪、高分辨率级、影像处理设备。该系统高效可靠,可用于生物化学、材料工程等行业的各种样品研究。JSM 6460LA利用场发射枪(FEG)源产生电子束。这个源允许仪器产生非常高分辨率的图像,信噪比大大提高。这个FEG源将仪器的分辨率提高到1nm,同时也提高了探测器的灵敏度。该探测器设计用于收集二次电子,使仪器能够获得高质量的图像。显微镜还具有高精度的舞台。这个阶段允许标本移动,因此可以精确成像。该级能够承载高达10克的样品重量和高达130毫米乘130毫米的扫描区域。它还具有广角功能,允许从不同角度扫描样品进行分析。除了成像能力外,JEOL JSM 6460LA还具有图像处理单元。这台机器旨在提高仪器所获得图像的质量。它能够通过调整颜色饱和度、对比度和亮度来自动增强图像。该工具还能够自动测量扫描线。这包括测量,如线宽、横截面面积和其他尺寸。总体而言,JSM 6460LA是一种极其强大的扫描电子显微镜,设计用于详细的成像和分析。它能够产生原子和纳米级样品的高度详细的图像和分析数据。它是一种高效可靠的资产,适合用于各种行业,以便探索样品的原子和纳米结构。
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